[实用新型]一种光学元器件厚度的测量装置

摘要

本实用新型公开了一种光学元器件厚度的测量装置，涉及光学元器件厚度测量技术领域。该光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱、测量机构和夹紧机构，测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板，隔板的顶部固定连接有放置板，测量机构位于测量箱的内部，测量机构包括转动杆和齿轮，测量箱的两侧内壁转动安装有转动杆，转动杆的外壁上固定套设有齿轮，夹紧机构包括电动推杆、连杆和铰接壁，测量箱的内侧底部固定连接有电动推杆，电动推杆的自由端固定连接有矩形块，矩形块的两侧均各固定连接有连杆，连杆的一端铰接安装有铰接壁。本实用能够对光学元器件进行更好的夹紧，还能够对光学元器件进行精准的测量。