[实用新型]一种背景抑制传感器测试工装有效
申请号: | 202221611455.3 | 申请日: | 2022-06-24 |
公开(公告)号: | CN217845236U | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 于学军 | 申请(专利权)人: | 天津神悦电子科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01D11/00;G01D11/30;G01B21/02 |
代理公司: | 天津垠坤知识产权代理有限公司 12248 | 代理人: | 江洁 |
地址: | 300000 天津市东丽区津滨大道*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种背景抑制传感器测试工装,涉及传感器测试设备技术领域,以解决现有技术中存在的传感器性能参数测试结果准确性较差的技术问题,该装置包括固定架、行程检测滑动结构、产品固定座、支撑平台、旋转平台及黑白测试板,支撑平台两端与固定架固定连接,行程检测滑动结构固定连接固定架及旋转平台,旋转平台可拆卸连接有黑白测试板,产品固定座与固定架固定连接且产品固定座与黑白测试板相对,本实用新型用于提高测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 背景 抑制 传感器 测试 工装 | ||
【主权项】:
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