[实用新型]一种具有限位结构的光学薄膜厚度检测装置有效
| 申请号： | 202222110925.4 | 申请日： | 2022-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN217877566U | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 陈茉莉;邹彤 | 申请（专利权）人： | 深圳市质立科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785 | 代理人： | 华江瑞 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种具有限位结构的光学薄膜厚度检测装置，包括装置基座，其正上方螺栓固定有检测箱体，且检测箱体的上表面胶合连接有LED屏幕，所述LED屏幕的左右两侧电线连接有光纤光谱仪，还包括：检测机构，其嵌套固定在检测箱体的左侧，且检测箱体的右侧嵌套连接有储料机构，所述检测机构的正下方轴连接有辅助滚轮；薄膜样品，其设置在储料机构的内部，且检测箱体的内壁螺栓固定有横向基板，所述横向导杆的外侧嵌套连接有储料机构。该具有限位结构的光学薄膜厚度检测装置，设置有横向夹持条及夹持面板，一方面夹持面板通过外侧的膜插槽对膜体的其中一侧进行卡合定位，避免膜体在照射及厚度测量时发生晃动情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 限位 结构 光学薄膜 厚度 检测 装置 | ||
【主权项】：
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