[实用新型]一种测试结构及测试装置有效
| 申请号： | 202222233414.1 | 申请日： | 2022-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN218037200U | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 宁丽娟 | 申请（专利权）人： | 深圳市瑞芯辉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058 | 代理人： | 疏亚雅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试结构及测试装置，一种测试结构，包括：至少一组测试片组，所述测试片组包括两个测试片，每一个所述测试片包括主体部以及所述主体部设有的测试部，其中，两个所述测试片的主体部分别沿竖直方向相间隔设置，两个所述测试片的测试部分别沿水平方向并列且相互独立设置，并且两个所述测试部相背离的一侧分别凸出表面设置有限位部，两个所述限位部相配合形成限位槽，所述限位槽用于限制电子芯片管脚的位置。可看出，本申请中的测试结构能够保证管脚精确与两个测试部接触。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 结构 装置 | ||
【主权项】：
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