[实用新型]一种氯硅烷杂质检测的前处理装置有效

专利信息
申请号: 202222467636.X 申请日: 2022-09-19
公开(公告)号: CN218725913U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 武红元;李日红;侯海波;李向东;袁中华;何鹏 申请(专利权)人: 内蒙古通威高纯晶硅有限公司
主分类号: G01N1/44 分类号: G01N1/44
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 潘涛
地址: 014000 内蒙古自治区*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 实用新型公开了一种氯硅烷杂质检测的前处理装置,属于多晶硅生产技术领域,包括加热装置,加热装置上设有用于放置氯硅烷的盛放装置,盛放装置上方设有石英罩,石英罩与出气管相连,出气管与氢氟酸吸收装置相连。氯硅烷放置在盛放装置,加热装置对盛放装置进行加热使得氯硅烷挥发,盛放装置中只余下杂质,挥发的氯硅烷在氢氟酸吸收装置内吸收,放置污染空气;待氯硅烷挥发完毕后即可得到氯硅烷中的杂质,将该杂质单独除去即可检测。本装置具有提升了检测结果、避免闪爆,且对环境无害。
搜索关键词: 一种 硅烷 杂质 检测 处理 装置
【主权项】:
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