[实用新型]一种电阻阵列辐射特性测试装置有效
| 申请号： | 202222868240.6 | 申请日： | 2022-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN219064691U | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 赵松庆;张帆;李睿;郝燕云;姜东红 | 申请（专利权）人： | 中国空空导弹研究院 |
| 主分类号： | G01J5/48 | 分类号： | G01J5/48;G01J5/02 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 471009 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统；在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。本实用新型一方面将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。另一方面，物方冷光阑遮挡了外围热部件所产生的热辐射光束，避免非均匀性冷反图像的产生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电阻 阵列 辐射 特性 测试 装置 | ||
【主权项】：
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