[实用新型]指纹芯片压力调节测试机构

摘要

本实用新型公开了指纹芯片压力调节测试机构，其包括支撑架、芯片载架、顶升装置、压盖和压力感测装置，芯片载架安装于支撑架，芯片载架的顶面形成供芯片板放置的承载平面，芯片载架开设有多个通孔，压盖可拆卸地盖合于芯片载架，压力感测装置可拆卸地安装于支撑架并位于芯片载架的正上方，压力感测装置包括至少一个压力感测器，顶升装置安装于支撑架的下方，顶升装置包括至少一个顶升头；压力调整检测时，顶升装置驱使顶升头向上穿过通孔并顶起芯片板的某一区域，被顶起的芯片板的某一区域压抵至压力感测器，以使压力感测器感测顶升压力。本实用新型的指纹芯片压力调节测试机构具有输出压力可调的特点。