[实用新型]一种芯片多功能测试箱

摘要

本实用新型涉及芯片检测技术领域，公开了一种芯片多功能测试箱，包括箱体，所述箱体的中部固定连接有隔板，所述箱体的内侧底部一侧固定连接有上料箱，所述上料箱的内侧底部一侧固定连接有第一电机，所述第一电机的驱动端固定连接有第一螺杆，所述第一螺杆的外壁螺纹连接有上料板，所述第一螺杆远离第一电机的一端转动连接在隔板的内部，所述上料箱的内侧底部另一侧固定连接有限位杆。本实用新型中，通过第一电机、第一螺杆、限位杆和上料板的设置，能够将芯片输送至方形孔内，将合格与不合格的芯片收纳放置，实现了灵活上料、避免芯片混淆的技术效果，达到了提高测试效率、便于后续使用的技术目的。