[实用新型]一种芯片老化试验用存放装置及老化试验系统

摘要

本实用新型公开了一种芯片老化试验用存放装置及老化试验系统，底座，底座的顶面内部设置有第一定位框；导通片，导通片设置于第一定位框内，导通片用于将芯片和检测电路进行电路接通；上盖，上盖设置于底座上方，且上盖覆盖翻转设置于底座上，上盖用于完成对底座上方进行合盖操作；其中，上盖的底端设置有第二定位框，第二定位框与第一定位框在上盖和底座合盖情况下呈上下平行设置；压紧部。本实用新型通过在上盖上设置有压紧部，让压紧部将芯片紧紧抵接于导通片上，保证了芯片通过导通片与检测电路连通的稳定性。避免芯片与检测电路在长时间试验下出现断路的情况发生。即保证对芯片老化测试结果的准确性。