[实用新型]一种IC封装用固化片翘曲度检测装置有效
申请号: | 202223225322.5 | 申请日: | 2022-12-03 |
公开(公告)号: | CN218895774U | 公开(公告)日: | 2023-04-21 |
发明(设计)人: | 王成;林宇东;杨东辉;牛明建 | 申请(专利权)人: | 北京中新泰合电子材料科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/32 | 分类号: | G01B21/32;G01B21/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101309 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种IC封装用固化片翘曲度检测装置,涉及IC封装领域,包括底座,所述底座的顶部设置有控制器,所述底座上安装有可升降的放置台,所述底座的顶部安装有检测仪本体,且检测仪本体上安装有可移动的检测头,所述检测仪本体的两侧壁均设置有齿板,且底座的顶部靠近齿板的一侧设置有驱动装置,所述驱动装置包括:固定座,所述固定座上安装有电动机,且电动机的输出轴端部延伸至固定座的内部,本实用新型采用了可升降的放置台和可移动的检测仪本体,放置台自动下降至底座的内部,同时检测仪本体移动至放置台的上方,有利于保护放置台,从而保证放置台内部空间的卫生,有利于保护置于容腔中的电性元器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 ic 封装 固化 曲度 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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