[实用新型]一种芯片测试用翻转机构

摘要

本实用新型公开了一种芯片测试用翻转机构，包括芯片测试机，所述芯片测试机的底面四角固定连接有脚撑，所述芯片测试机的上部设置有工位，所述工位的内底面中心部位固定连接有治具组件，所述治具组件的正上方固定连接有升降组件，所述升降组件包括滑动板，所述滑动板的底面固定连接有翻转组件；该装置解决了现有的芯片测试用翻转机构翻转的成功率不高的技术问题，通过设置升降组件和翻转组件使每个芯片在对一面测试完成之后就能立马翻面随即对另一面进行测试，达到了翻转成功率高，且避免翻转未成功后人工进行挑拣翻转的过程中汗液对芯片造成损伤的技术效果。