[发明专利]涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310024758.8 申请日: 2023-01-09
公开(公告)号: CN115877295A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 汤伟男;王龙庆;李培 申请(专利权)人: 北京万东医疗科技股份有限公司
主分类号: G01R33/54 分类号: G01R33/54
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 周宇
地址: 100000 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种涡流测量方法,该方法包括:施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域;测试梯度用于产生涡流;射频脉冲信号用于产生磁共振信号;选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向;选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号;打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量;水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号;采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号,并根据磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B0涡流与线性涡流。采用本申请实施例提供的涡流测量方法能够在一次扫描中完整测量出所有的涡流项,并且采样精度高。
搜索关键词: 涡流 测量方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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