[发明专利]SSD供电抗干扰能力测试方法、装置、存储介质及系统在审
| 申请号： | 202310040795.8 | 申请日： | 2023-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN115877113A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 赵春辉;孙伟;薛红军;康雷 | 申请（专利权）人： | 北京得瑞领新科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615 | 代理人： | 李丽颖 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西小口路66号*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及数据存储技术领域，提供了一种SSD供电抗干扰能力测试方法、装置、存储介质及系统，该方法包括：根据SSD上电时所处的不同阶段配置不同类型的干扰供电波形，以模拟不同上电阶段的电源干扰场景；在待测试SSD的不同上电阶段，分别发送对应类型的干扰供电波形生成指令到可编程的存储系统部件热插拔测试工具，以供存储系统部件热插拔测试工具根据干扰供电波形生成指令生成相应的干扰供电波形对待测试SSD进行供电干扰测试；向测试服务器发送SSD状态监测命令，使测试服务器监测待测试SSD的上电状态和本次供电干扰测试场景下待测试SSD是否达到正常工作状态。本发明能够更快速、精准的实现SSD对电源供电抗异常的干扰能力测试。 | ||
| 搜索关键词： | ssd 供电 抗干扰 能力 测试 方法 装置 存储 介质 系统 | ||
【主权项】：
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