[发明专利]芯片测试方法、装置及设备有效
| 申请号： | 202310053944.4 | 申请日： | 2023-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN115792582B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 邓志欢;黄海涛 | 申请（专利权）人： | 珠海市杰理科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈金普 |
| 地址： | 519000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种芯片测试方法、装置及设备。所述方法包括：获取待测芯片的芯片型号数据；若根据芯片型号数据确定待测芯片属于目标型号的芯片，则针对待测芯片执行目标型号所对应的型号测试方案，输出待测芯片的测试结果；其中，型号测试方案包括芯片经功能单元分析得到的并行测试方案；功能单元分析包括依据芯片中各功能单元所需的测试时间、以及各功能单元之间并行测试的干扰情况，确认出并行测试方案。本申请根据各功能单元并行测试时的干扰情况，制定出测试结果最优的并行测试方案，能够保证总测试时间最短，且测试数据正确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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