[发明专利]显微术中进行三维成像的方法、装置和显微镜在审

专利信息
申请号: 202310087884.8 申请日: 2023-01-28
公开(公告)号: CN116560063A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: T·卡尔克布伦纳;J·西本摩根 申请(专利权)人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
主分类号: G02B21/36 分类号: G02B21/36;G02B21/00;G02B21/02;G02B21/06
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于显微术中的三维成像的方法,其中借助于校正元件在检测光路中校正来自样本的检测辐射的像差;以空间分辨的形式捕获校正的检测辐射。该方法的特征在于,确定校正元件的最佳可能校正设置,通过最佳可能校正设置,在最佳可能校正设置时出现的像差得以尽量减少;并且基于最佳可能校正设置,确定缺陷校正设置,在缺陷校正设置下出现的像差导致检测辐射的不对称点扩散函数。确定在缺陷校正设置下出现的不对称PSF,并且引发所确定的缺陷校正设置。二维地获取样本的图像数据,并且基于不对称PSF的不对称性的相应被捕获的显现,在不同情况下将检测光路的光轴方向上的位置至少分配给选定的图像数据。本发明还涉及用于显微术的装置和显微镜。
搜索关键词: 显微 进行 三维 成像 方法 装置 显微镜
【主权项】:
暂无信息
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