[发明专利]包括电介质结构的场效应晶体管在审

专利信息
申请号: 202310093273.4 申请日: 2023-01-31
公开(公告)号: CN116544278A 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: C·D·阮;T·施洛瑟 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/40
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘书航;吕传奇
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了包括电介质结构的场效应晶体管。提出了一种场效应晶体管FET(100)。FET(100)包括第一导电类型的源极区(102),其在半导体本体(108)的第一表面(106)处电连接到源极电极(104)。FET(100)进一步包括第一导电类型的漏极区(110),其在第一表面(106)处电连接到漏极电极(112)。电介质结构(114)被沿着第一横向方向(x1)布置在源极区(102)和漏极区(110)之间。电介质结构(114)包括在第一表面(106)上的栅极电介质(1141)和具有在第一表面(106)下方的底部侧(115)的场电介质结构(1142)。FET(100)进一步包括在栅极电介质(1141)上的栅极电极(118)。栅极电极(118)和场电介质结构(1142)被沿着第一横向方向(x1)彼此间隔开。FET(100)进一步包括场电极(120),其具有在场电介质结构(1142)的顶部侧(116)下方的底部侧(121)。
搜索关键词: 包括 电介质 结构 场效应 晶体管
【主权项】:
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