[发明专利]一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310097029.5 | 申请日： | 2023-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN116167988A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 马进;任杰;刘江;徐海军 | 申请（专利权）人： | 温岭热刺激光器科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/66;G06T7/90 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王震 |
| 地址： | 317500 浙江省台州市温岭市东部*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：根据中点位置信息、巴条对应的边缘线方程，确定基板对应检测边缘线的中点到巴条对应检测边缘线的距离，得到待检测芯片的突出距离；根据所有边缘线方程的斜率，确定检测边缘线之间的相对角度；统计待检测芯片图像中与基板的颜色不同的像素点个数；将突出距离、相对角度和像素点个数输入到芯片检测模型中，得到待检测芯片的质量检测结果；芯片检测模型是通过样本芯片的突出距离、相对角度和像素点，以及对应的质量检测结果训练得到的。通过本申请的方式，能够确定待检测芯片的质量，提高了确定芯片质量的准确率和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 质量 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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