[发明专利]层偏检测方法和装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310126711.2 | 申请日： | 2023-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN116228847A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 刘善威;彭文才;陈黎阳 | 申请（专利权）人： | 广州兴森快捷电路科技有限公司;珠海兴科半导体有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/70 | 分类号： | G06T7/70;G06T7/60;G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 洪铭福 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种层偏检测方法和装置、电子设备及存储介质。其中，层偏检测方法包括：获取所述子基板的基板参数；根据基板参数分别计算得到初始位移偏移量、初始涨缩偏移量、初始位移偏移量；根据初始位移偏移量、初始涨缩偏移量、初始位移偏移量确定目标位移偏移量、目标涨缩偏移量、目标位移偏移量；根据初始位移偏移量、初始涨缩偏移量、初始位移偏移量、预设的初始模拟点坐标得到目标模拟点坐标组；根据目标模拟点坐标组得到初始整板偏移量，并确定目标整板偏移量；根据目标涨缩偏移量、目标位移偏移量、目标旋转偏移量、目标整板偏移量得到层偏检测结果。本实施例的层偏检测方法能够实现对PCB层偏的准确量化地管控。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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