[发明专利]一种具有腔体自动压力平衡组件的晶圆设备及运行方法在审
申请号: | 202310161161.8 | 申请日: | 2023-02-24 |
公开(公告)号: | CN116230590A | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 杨平 | 申请(专利权)人: | 上海稷以科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 梁剑 |
地址: | 200241 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有腔体自动压力平衡组件的晶圆设备及运行方法,包括:传送模块,该传送模块一侧设置有两个工艺腔,每个工艺腔处设置有门板,工艺腔的一侧设置有压力平衡组件,门板上设置有门阀;压力平衡组件包括连通于工艺腔的第一连接管、与第一连接管连接的大气开关及第二连接管及设置于第二连接管上的平衡阀。根据本发明,通过引入压力自动平衡装置,在打开传送门前使工艺腔的压力等于大气压,开关传送门可有效消除因压力差引起的传送门寿命缩短。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 自动 压力 平衡 组件 设备 运行 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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