[发明专利]容量法测定低硼玻璃中氧化硼含量的方法及应用在审
申请号: | 202310163631.4 | 申请日: | 2023-02-24 |
公开(公告)号: | CN116298077A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 岳志芳;胡恒广;闫冬成;张广涛;刘泽文;陈瑞瑞;刘永长;刘文渊 | 申请(专利权)人: | 河北光兴半导体技术有限公司;东旭科技集团有限公司 |
主分类号: | G01N31/16 | 分类号: | G01N31/16;G01N21/78 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 陈静 |
地址: | 050035 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及低硼玻璃成分检测领域,公开了一种容量法测定低硼玻璃中氧化硼含量的方法及应用。本发明提供的方法对低硼玻璃依次进行溶解处理、沉淀处理和过滤处理,滤液记为试液I;然后向试液I中依次添加甲基红指示剂和EDTA二钠后,将试液I标定至黄色,得到试液II;向试液II中添加溴甲酚绿指示剂、甘露醇和酚酞指示剂,得到试液III,采用碱溶液将试液III滴定至由绿色突变为紫色,制备空白试样,计算得到低硼玻璃中氧化硼的含量。本发明提供的方法在滴定过程中改变了指示剂的选择,增强了颜色变化灵敏度,提高了测定结果的准确性,降低了实验检出限,摆脱了测定过程中对高成本仪器设备的依赖,降低了测定成本。 | ||
搜索关键词: | 容量 测定 硼玻璃 氧化 含量 方法 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北光兴半导体技术有限公司;东旭科技集团有限公司,未经河北光兴半导体技术有限公司;东旭科技集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310163631.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。