[发明专利]一种芯片测试系统及芯片测试装置有效
| 申请号： | 202310230390.0 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116184174B | 公开（公告）日： | 2023-08-18 |
| 发明（设计）人： | 柳浩 | 申请（专利权）人： | 深圳市创达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01D21/02 |
| 代理公司： | 广东普润知识产权代理有限公司 44804 | 代理人： | 寇闯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试装置，包括芯片图像采集单元、芯片外观测试单元、中央测试数据处理系统、触发器、RF功率检查单元、芯片可靠性测试单元、转换速度性能指标测试模块、测试结果判断单元和测试学习终端，本发明的有益效果是：通过加入了芯片图像采集单元，实现了对需要测试的芯片进行图像采集建立处理，并根据芯片的图像外观与标准芯片的图像进行对比，从而快速的对芯片外观存在的问题进行检测处理，通过加入了芯片电流测试单元，实现了对芯片的直流电流大小进行芯片测试处理，从而对芯片的承载电流大小进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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