[发明专利]闪存检测方法、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202310242687.9 | 申请日： | 2023-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN116434813A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张旭航;朱祖建;郑天翼 | 申请（专利权）人： | 瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/18;G06F18/24;G06F18/214 |
| 代理公司： | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人： | 柯玉珊 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了闪存检测方法、电子设备和存储介质。该方法包括：获取阈值电压分布分类模型，所述阈值电压分布分类模型包括基于闪存块中的各个页的读取出错数确定的有效阈值电压分布和无效阈值电压分布；针对待测闪存块中的各个页进行读取以获取所述各个页的出错数；基于所述出错数获取与所述待测闪存块相对应的块出错数，以将所述块出错数与预定阈值进行比较；如果所述块出错数小于所述预定阈值，将所述待测闪存块的阈值电压分布输入所述阈值电压分布分类模型；以及如果基于所述阈值电压分布分类模型确定所述阈值电压分布有效，确定所述待测闪存块的检测通过。根据本发明，通过阈值电压分类模型，实现对闪存块中页的阈值电压分布形态的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 检测 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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