[发明专利]X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备在审
| 申请号： | 202310271050.2 | 申请日： | 2023-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN116523836A | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 连玄;巫德财;刘茜茜;罗杰 | 申请（专利权）人： | 成都善思微科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 尉保芳 |
| 地址： | 610200 四川省成都市双流*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。本发明通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 探测器 质量 检测 方法 系统 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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