[发明专利]测试方法以及测试电路有效
| 申请号： | 202310311842.8 | 申请日： | 2023-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN116013395B | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 杨杰 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/14;G11C29/44 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种测试方法以及测试电路，测试方法包括：提供存储器，其中，存储器在第一测试模式下具有第一感测裕度，存储器在第二测试模式下具有第二感测裕度，第一测试模式的测试时间小于第二测试模式的测试时间，第一感测裕度大于第二感测裕度；确定存储器的感测放大器的衬偏电压调整值，其中，感测放大器的衬偏电压经过衬偏电压调整值调整后，能够使存储器在第一测试模式下具有第三感测裕度，第三感测裕度与第二感测裕度的差值小于第一感测裕度与第二感测裕度的差值；根据衬偏电压调整值对感测放大器的衬偏电压进行调整，并采用第一测试模式对整个存储器进行测试。本公开实施例至少有利于提升存储器的测试过程对异常的覆盖能力。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 以及 电路 | ||
【主权项】：
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