[发明专利]芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310429561.2 | 申请日： | 2023-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN116434822A | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 岳志强;周浩 | 申请（专利权）人： | 上海孤波科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘凤 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易实验区碧波*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：若待存储测试数据的数据格式不符合预置数据格式，根据待存储测试数据的数据格式提取测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据按照对应预置数据格式进行格式转换得到中间测试数据；将中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。通过本申请的方式，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试数据 存储 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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