[发明专利]一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法在审
| 申请号： | 202310441628.4 | 申请日： | 2023-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN116500068A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王帅;刘文齐;黄陆军;麻子硕;金嘉熠;安琦;张宇;耿林 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/2005 | 分类号： | G01N23/2005;G01N23/203;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/36 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司 23213 | 代理人： | 侯静 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法，本发明具体涉及一种具有细小晶粒的低电导率金属粉EBSD检测样品的制备方法。本发明针对晶粒细小且导电性较差的钛合金等粉末存在制备的EBSD样品导电性差、标定率低的问题。方法：一、将粉末制成块体样品；二、使用银胶将金属粉末粘在导电性好的铜块上；三、抛光、腐蚀，完成制备。本发明用于EBSD检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 细小 晶粒 电导率 金属 ebsd 检测 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
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