[发明专利]电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202310475085.8 | 申请日： | 2023-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN116563233A | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 广东利元亨智能装备股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06V10/26;G06V10/764;G06V10/44;G06V10/56 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 麦广林 |
| 地址： | 516000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提出了一种电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质，包括如下步骤：获取电芯图像；对电芯图像进行区域截取，得到目标区域；根据目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，并根据目标分类函数对目标区域中的缺陷进行特征提取，得到缺陷特征参数；根据缺陷特征参数和预设特征参数对目标区域中的缺陷进行分类。由于本申请实施例能够根据目标区域的位置确定调用对应的目标分类函数，针对性强；另外，本申请实施例还能够根据缺陷特征参数进行缺陷分类，能够准确识别到电芯缺陷的类型，可用于后续通过缺陷反推产生缺陷的原因，从而提高电芯检测效能。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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