[发明专利]车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310491576.1 | 申请日： | 2023-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN116540073A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 邵翠萍;李慧云;杨柳青 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F30/3308;G06F30/327;G06F21/57 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 赵雯 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片安全技术领域，公开了一种车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质。其中，该方法包括：获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，该安全属性数据包括安全目标；从电路网表数据中确定出针对于车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，第一故障事件为偏离安全目标的事件，第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；基于第一故障事件和第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；基于电路失效故障树，确定车规级芯片的安全度量数据。通过实施本发明技术方案，能够综合考虑芯片电路的逻辑结构，以精确计算出因瞬态故障影响安全目标的安全度量数据，从而实现针对于车规级芯片的有效安全分析。 | ||
| 搜索关键词： | 车规级 芯片 安全 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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