[发明专利]外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202310492879.5 | 申请日： | 2023-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN116539621A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 宋克江;彭琪;叶政;叶杨椿;姜伟;段美全;叶劲松 | 申请（专利权）人： | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/10;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 何艳 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备。该方法包括：设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数；根据所述外观缺陷类型以及所述激光芯片的检测面设置所述激光芯片的外观图像的分割方式以及检测方式的参数；根据所述激光芯片的芯片类型设置所述激光芯片的检测面的参数，并导入所述检测面的标准参数；根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数。本发明提供的外观缺陷检测算法参数的设置方法不仅设置逻辑简单且高效，易于调整，而且可适配不同类型的激光芯片，可以实现多样化的外观检测，极大的提高了激光芯片的外观缺陷的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 外观 缺陷 检测 算法 参数 设置 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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