[发明专利]一种存储器的测试方法有效
| 申请号： | 202310530798.X | 申请日： | 2023-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN116259351B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 钟岱山;张有志;朱友华;陈志涛;陈斌斌;赵维 | 申请（专利权）人： | 粤芯半导体技术股份有限公司;广东省科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 林丽丽 |
| 地址： | 510700 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器的测试方法，包括：按照第一地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第二地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第三地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第四地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第五地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；按照第六地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；按照第七地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第八地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作。通过本发明的测试方法，解决了现有MarchC+算法在某些测试条件下存在复杂度高、测试时间长的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
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