[发明专利]存储器故障测试方法在审
| 申请号： | 202310642714.1 | 申请日： | 2023-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN116597889A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 钟岱山;陈斌斌;张有志 | 申请（专利权）人： | 粤芯半导体技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 冯启正 |
| 地址： | 510000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器故障测试方法，包括：向每个地址写入反棋盘格数据；进行延时操作；从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 故障测试 方法 | ||
【主权项】：
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