[发明专利]一种芯片烧录测试设备有效

专利信息
申请号: 202310668937.5 申请日: 2023-06-07
公开(公告)号: CN116400203B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 陈华平;李小山 申请(专利权)人: 深圳市迪科贝科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;B07C5/38;H05K7/20
代理公司: 广东灵顿知识产权代理事务所(普通合伙) 44558 代理人: 陈丹萍
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及芯片烧录检测技术领域,具体的说是一种芯片烧录测试设备,包括控制台;固定机构,所述控制台底部安装有固定机构,所述固定机构包括吸盘,所述控制台四角内部分别安装有吸盘,所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接,所述吸盘底部延伸至控制台外侧,所述吸盘内部中心处设有导流槽,所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆,所述螺杆底部转动连接有橡胶柱,所述橡胶柱与控制台内部滑动连接,所述橡胶柱底部位于吸盘顶部,所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径;闭锁机构,所述控制台内部安装有闭锁机构;通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固,固定机构的驱动利于使闭锁机构工作,实现对存放机构的闭锁控制。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 设备
【主权项】:
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