[发明专利]一种高压下TBU器件的漏电测试电路有效
| 申请号： | 202310823756.5 | 申请日： | 2023-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN116540148B | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 梁媛媛;赵国情;徐旭;葛俊吉;夏冰 | 申请（专利权）人： | 江苏展芯半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52 |
| 代理公司： | 常州众慧之星知识产权代理事务所(普通合伙) 32458 | 代理人： | 郭云梅 |
| 地址： | 210012 江苏省南京市雨花台*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高压下TBU器件的漏电测试电路，属于漏电测试技术领域，包括第一电源、第二电源、第一电容，第一开关管与第二开关管，所述第一电源的正极连接所述第一开关管的阳极，所述第一开关管的阴极连接TBU器件的第一端，所述第二电源的正极连接所述TBU器件的第一端，所述第一电源的负极接地，所述TBU器件的第二端接地，所述第二电源的负极接地，所述第一电容并联在所述第一电源两端，所述第一开关管的门极连接所述第二开关管的集电极，所述第二开关管的集电极接地，所述第二开关管的发射极连接第三电源，所述第二开关管的基极连接第一端口，所述第一端口连接TTL电平信号。本发明一种高压下TBU器件的漏电测试电路结构简单，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压下 tbu 器件 漏电 测试 电路 | ||
【主权项】：
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