[实用新型]一种IC测试用下压装置有效
| 申请号： | 202320635074.7 | 申请日： | 2023-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN219417665U | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 梁大明 | 申请（专利权）人： | 上海中艺自动化系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳众邦专利代理有限公司 44545 | 代理人： | 肖琴 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种IC测试用下压装置，包括第一基板、第一驱动机构、导向机构、第二驱动机构。其中，第一驱动机构固定连接第一基板。导向机构固定连接于第一基板，并形成有沿竖直方向延伸的第一导向结构，第二驱动机构滑动连接于第一导向结构内，并与第一驱动机构传动连接，第二驱动机构在第一驱动机构的驱动下沿竖直方向运动，从而使第二驱动机构在竖直向驱动测试组件运动，通过在导向机构上设置沿竖直方向延伸的第一导向结构，缩短了第二驱动机构在竖直方向上的行程，从而提高测试组件的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 测试 下压 装置 | ||
【主权项】：
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