[其他]有自测试能力的超大规模集成电路

摘要

一种自测试超大规模集成电路包括完成超大规模集成电路器件基本功能的功能块。具有内部图形发生器以便在测试控制器的控制下产生预定的图形。测试控制器响应通过接口电路从外部控制总线接收的外部信号执行预定测试程序。功能块的输出被输入到识别电路将其输出与预定的测试标准相比较。测试控制器测出识别电路的输出且如果在被处理的测试图形数据及预定的测试标准之间未能进行有效比较，则在测试程序末尾产生故障信号。

主权项

1、一种自测试电路，包括：一从外系统接收输入信号并根据与该功能电路块连成整体的预定功能对收到的输入信号进行处理的功能电路块，上述被处理的输入信号从上述功能电路块输出到上述外部系统；产生测试图形信号输入到上述功能电路块的图形装置；识别装置，该装置接收上述功能电路块的输出处理信号，将输出信号与预定测试标准进行比较，及当在上述功能电路块的输出信号及上述预定测试标准之间作有效比较时，输出有效比较信号；控制上述图形装置响应接收外自测试起始信号并根据预定测试程序产生上述测试图形信号的控制装置；上述功能电路，图形装置，识别装置及控制装置为自备的(Self-contained)整体单元；上述控制装置探测出上述识别装置的输出，并且如果对于由上述测试图形装置根据上述预定测试图形所产生的所有上述测试图形信号没有探测出有效比较信号时则输出一故障信号；将上述整体单元与外系统相连从该处接收上述自测试起始信号并发送上述故障信号到该处的接口装置，上述接口装置专用于上述功能电路的自测试。