[其他]测微量具微分筒上棱边高度检定仪无效
| 申请号： | 85201876 | 申请日： | 1985-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN85201876U | 公开（公告）日： | 1986-10-29 |
| 发明（设计）人： | 安立平 | 申请（专利权）人： | 安立平 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 天津市专利事务所 | 代理人： | 周永铨 |
| 地址： | 天津市河东区王*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 测微量具微分筒上棱边高度检测仪，属于测距仪表。它是由一个千分表，一个上部可固定千分表的、下部有一个倒置的V形槽的主体和一个楔形体的、可与千分表顶杆相接的触头构成的。由于V形槽的两个面可与被测具的圆柱母线呈密接触，而且由这两母线构成的平面垂直于顶杆中心线；楔形体的触头下部端棱线和顶杆中心线垂直，而且楔形触头的一个面和主体上靠近触头一端的平面是处于同一平面的故能正确测量套管表面至锥面棱边上边缘的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 微量 微分 筒上棱边 高度 检定 | ||
【主权项】：
1、一种检测测微量具固定套管纵刻线表面至微分筒锥面棱边一边缘距离(测微量具微分筒上棱边高度)的塞尺或者工具显微镜，本实用新型的测微量具微分筒上棱边高度检定仪的特征是：它是由一个千分表，一个可固定千分表和定零位面的主体和一个可与千分表顶杆连接的触头构成的。
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