[其他]X荧光分析仪双补偿件及制作方法无效
| 申请号： | 86101103 | 申请日： | 1986-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN86101103A | 公开（公告）日： | 1987-12-23 |
| 发明（设计）人： | 邓中林 | 申请（专利权）人： | 邓中林 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 湖南省邵阳市专利事务所 | 代理人： | 胡国华 |
| 地址： | 青海省祁连地*** | 国省代码： | 青海;63 |
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| 摘要： | 一种轻便X射线荧光分析仪的双补偿件及制作方法。是在X荧光分析仪探头中NaI(Tl)晶体的铍窗口上加一片补偿件II和平衡滤片中的吸收片上加一片补偿件I，可准确分析出原子序数为11—50元素的Ka线的常量元素和大于50号元素的La线的微量元素的荧光强度。能在野外、现场测试，试样不需任何化学处理就可直接测金及其它有色、贵重稀有金属元素。并且制作方法简单，材料易取。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 分析 补偿 制作方法 | ||
【主权项】：
1、一种轻便式X射线荧光分析仪双补偿件，包括平衡滤片和NaⅠ(Tl)晶体，其特征是Na±(Tl)晶体铍窗口上有一件补偿片Ⅱ和平衡滤片的吸收片上有一件补偿片Ⅰ。
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