[发明专利]密度校正方法及装置无效
| 申请号： | 88103593.9 | 申请日： | 1988-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN1014471B | 公开（公告）日： | 1991-10-23 |
| 发明（设计）人： | 小松资明;佐藤繁雄 | 申请（专利权）人： | 富士胶片公司 |
| 主分类号： | G03C5/02 | 分类号： | G03C5/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理有限公司 | 代理人： | 叶凯东,吴增勇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种校正实测密度的方法，包括以下步骤用一台处于校正状态的密度计测量标准密度的高和低的密度以得出它们的实测值；根据所述密度的实测值和已知值之间的差给出用于零点修正的数据；将该数据存入存储器；利用从存储器该出的该数据以校正物体的实测密度。为了提供该数据，预先要把已知的标准密度输入密度计。实施这种校正方法的密度计结构紧凑而又便于携带。它包括一个其中装配有诸如光投射元件、光接收元件和参考光检测元件等测量元件的壳体。 | ||
| 搜索关键词： | 密度 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种校正实测密度的方法，其特征在于包括以下步骤：测量高和低的标准密度元件以得到标准的高和低的密度的实测值；根据所述实测值和作为所述高和低的标准密度板的密度而预置的标准值之间的差得出零点修正数据；将所述零点修正数据存入存储器；从所述存储器中读出所述零点修正数据，用以校正物体密度的实测值；所述零点修正数据被代入如下公式，得出经过校正的测量值R：R＝RD-α·RD-K式中：α是系数，K是常数，RD实测值，α、K分别用下式表示：式中：RL是所述低标准密度值，RH是所述高标准密度值，R1是低标准密度实测值，R2是高标准密度实测值。
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