[发明专利]对运动过程流中的物质作分光光度分析的装置和方法无效
| 申请号： | 89100057.7 | 申请日： | 1989-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN1039116A | 公开（公告）日： | 1990-01-24 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特J·哈维 | 申请（专利权）人： | 自动控制装置-机械制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 吴淑芳 |
| 地址： | 联邦德国8*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种对运动过程流中的物质作分光光度分析的装置和方法。使物质导入取样室的观察室并受辐射光束照射。第一分隔间容纳辐射源和辐射探测器，与之环境隔离的第二分隔间容纳取样室、置反射器以接收辐射源的光束，使之穿过取样室内物质，并反射到辐射探测器。第二分隔间保持其环境处于适合对取样室物质作辐射分析的范围，并没反射镜使光束转向不穿过物质，并用于在与取样室相同的环境里形成参考光谱和使转向的光束射向辐射探测器。 | ||
| 搜索关键词： | 运动 过程 中的 物质 分光 光度 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种对在运动过程流中的物质作分光光度分析的装置，其特征在于，物质被导入一取样室里的观察室中，并受到适用于分光光度分析的辐射束的照射，上述装置包括：(a)容纳在第一分隔间里的一个辐射源和一个辐射探测器；(b)与第一分隔间环境隔离的容纳有上述取样室的第二分隔间；(c)安置在上述第二分隔间里用于接收来自上述第一分隔间的辐射光束、使上述辐射光束穿过取样室和其中所包含的待分析的物质、并使辐射光束射回置有辐射探测器的第一分隔间的反射装置；(d)上述第二分隔间包括维持其环境处于适合于对取样室里的物质作辐射分析的范围内的装置；以及(e)安置在上述第二分隔间里的用于使辐射光束转向不穿过上述物质和用于在与取样室相同的环境里形成一参考光谱以及使上述转向的光束射向辐射探测器的参考装置。
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