[发明专利]光谱分析方法和分析系统无效

专利信息
申请号: 92101343.4 申请日: 1992-02-28
公开(公告)号: CN1070609C 公开(公告)日: 2001-09-05
发明(设计)人: 福井勋;深山隆男 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67;G01J3/36;G01N21/63
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 颜承根
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 样品中多种元素被指定为监测元素。每次激发样品时,检测和存储监测元素和待测元素的谱线光强。从存储的数据确定出监测元素各自的谱线光强的分布。根据该分布,确定监测元素各自的谱线光强的优选区。参照存储的数据,累加每次激发监测元素的谱线光强在优选区内时待测元素的谱线光强。
搜索关键词: 光谱分析 方法 分析 系统
【主权项】:
1.一种光谱分析方法,其特征在于,包括如下步骤:指定样品中多种元素作为监测元素;多次激发样品;每次所述样品被激发时检测所述监测元素和待测元素的谱线光强;存储所检测到的谱线的光强;基于所述存储的数据得到所述监测元素的谱线光强的分布并根据所述分布确定所述监测元素的谱线光强的有效区;只要所述监测元素的谱线光强在依据所述存储数据确定的有效区内就累加各次激发时的所述待测元素的谱线光强。
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