[发明专利]表面电子能谱的测量方法及其装置无效

专利信息
申请号: 92106277.X 申请日: 1992-06-29
公开(公告)号: CN1031902C 公开(公告)日: 1996-05-29
发明(设计)人: 李京;夏邦杰;张立新 申请(专利权)人: 中国科学院金属腐蚀与防护研究所
主分类号: G01N23/227 分类号: G01N23/227
代理公司: 中国科学院沈阳专利事务所 代理人: 闵宪智
地址: 110015 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种表面电子能谱的测量方法及其装置,试样加热采用直接加热方式,其特征在于加热电流采用脉冲调制波的形式,使加热和测试在不同的时间间隔内轮流进行。一种实现上述测量方法的测量系统,其特征在于用脉冲调制开关电源产生上述方法中的电流,本发明具有不影响系统真空度、加热区减小、温度上限高、升温速度快,且测试信号不受影响等优点。
搜索关键词: 表面 电子 测量方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种表面电子能谱的测量方法,包括试样加热、系统冷却、温度检测和信号检测四部分,试样加热采用直接加热方式,其特征在于:(1)加热电流采用脉冲波的形式,在脉冲波的间歇周期Δt2内进行信号检测,在Δt1内进行试样加热,使加热和测试在不同的时间间隔内轮流进行;(2)在脉冲波的基础上调制以交变周期振荡电流,如方波、三角波、正弦波等;
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