[发明专利]表面电子能谱的测量方法及其装置无效
申请号: | 92106277.X | 申请日: | 1992-06-29 |
公开(公告)号: | CN1031902C | 公开(公告)日: | 1996-05-29 |
发明(设计)人: | 李京;夏邦杰;张立新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属腐蚀与防护研究所 |
主分类号: | G01N23/227 | 分类号: | G01N23/227 |
代理公司: | 中国科学院沈阳专利事务所 | 代理人: | 闵宪智 |
地址: | 110015 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种表面电子能谱的测量方法及其装置,试样加热采用直接加热方式,其特征在于加热电流采用脉冲调制波的形式,使加热和测试在不同的时间间隔内轮流进行。一种实现上述测量方法的测量系统,其特征在于用脉冲调制开关电源产生上述方法中的电流,本发明具有不影响系统真空度、加热区减小、温度上限高、升温速度快,且测试信号不受影响等优点。 | ||
搜索关键词: | 表面 电子 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1、一种表面电子能谱的测量方法,包括试样加热、系统冷却、温度检测和信号检测四部分,试样加热采用直接加热方式,其特征在于:(1)加热电流采用脉冲波的形式,在脉冲波的间歇周期Δt2内进行信号检测,在Δt1内进行试样加热,使加热和测试在不同的时间间隔内轮流进行;(2)在脉冲波的基础上调制以交变周期振荡电流,如方波、三角波、正弦波等;
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院金属腐蚀与防护研究所,未经中国科学院金属腐蚀与防护研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/92106277.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多端口存储系统
- 下一篇:用于波长转换系统中的光学制品及其制造方法