[实用新型]数字集成电路多值逻辑测试仪

摘要

本实用新型涉及一种用于测试一般数字集成电路的功能及参数的数字集成电路多值逻辑测试仪，本实用新型的特点是融功能测试与精确的参数测试为一体，在逻辑功能测试中，对集成电路各管脚进行多值参数循环测试；本测试仪的电路部分主要包括微处理器、管脚驱动电路、用于产生多个测试电压、负载电流的多值参数选择切换电路部分、多值输出比较器等，利用比较器及微处理器可精确判定逻辑值的阈值和门限，并可得出相应门限及阈值随测试电压，电流变化的数据。

主权项

1、一种数字集成电路多值逻辑测试仪，包括：外壳、面板、电路部分；面板上设有：键盘、显示屏、指示灯、测试插座；外壳内设有电路板，电路部分组装在电路板上；所述电路部分包括：一微处理器；一用于将测试数据接入被测电路输入端的管脚电路；用于连接微处理器及外围硬件、进行数据信息交换的数据总线；其特征在于：电路部分还包括：用以提供多值测试电压、多值负载电流以及进行数据比较测试的多值参数测试部分，该部分包括：多值参数选择切换部分(30)、多值比较器(36)、输入输出变换部分(32)、输出管脚切换部分(35)；所述微处理器(31)通过数据总线(20)与键盘(26)、输入输出(I/O)变换部分(32)、管脚电路(23)、多值参数选择切换部分(30)及多值比较器(36)进行数据交换，微处理器接收键盘键入的被测集成电路的型号及有关测试方式及数据，根据微处理器内的相应软件进行输入输出变换，通过多值参数选择切换部分(30)，将选定的测试电压及负载电流通过管脚电路施加于被测管脚，并通过输出管脚切换部分使输出管脚依次切换到多值参数比较器(36)上，并将比较结果数据显示在所述显示屏上。