[发明专利]总线分析器及其测试内总线的方法无效
申请号: | 95119222.1 | 申请日: | 1995-11-10 |
公开(公告)号: | CN1093288C | 公开(公告)日: | 2002-10-23 |
发明(设计)人: | 宋庸镐 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/00 | 分类号: | G06F11/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 范本国 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明为多处理器计算机系统的总线分析器,包括总线测试器,用于存储和向系统总线输出测试的数据;跟踪存储器,用于顺序地写入从系统总线输出的测试数据;存储器控制器,用于控制跟踪存储器;以及用于以下目的的测试控制器产生跟踪和触发信号,读出测试数据,并将读出的数据同从总线测试器所输出的测试数据相比较。该总线分析器自动地测试内总线而无需附加的测试设备以及其他板。 | ||
搜索关键词: | 总线 分析器 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在多个处理器板由系统总线共同连接的多处理器系统中用于测试系统总线的总线分析器,包括:总线测试器,用于在测试上述系统总线时存储用来测试上述系统总线的数据,并向上述系统总线输出测试数据;跟踪存储器,用于顺序地写入从上述系统总线输出的测试数据;存储器控制器,用于控制上述跟踪存储器,使之根据跟踪信号存储来自上述系统总线的测试数据,并根据触发信号停止存储该数据;以及用于以下目的的控制器:产生要被输出到上述存储器控制器的上述跟踪和触发信号,读出存储在上述跟踪存储器中的测试数据,并将读出的数据同从上述总线测试器所输出的测试数据相比较。
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