[发明专利]测量残存的可辐射固化的单体或低聚物的方法

摘要

本发明提供一种测量辐射固化了的涂层中荧光剂发出荧光的辐射能量强度的方法，所述方法包括下列步骤a)提供一层涂层(4)，所述的涂层包括1)可辐射固化的单体或低聚物；和2)激励能量波长为λ2的荧光剂，所述的荧光剂的荧光辐射能量为λ3；b)通过暴露于辐射能量(14)使涂层固化，由此改变荧光剂暴露于波长λ2辐射而发射荧光的辐射能量强度；c)用波长为λ2的激励能量(16)照射辐射固化了的涂层，这里，激励能量至少有50％被辐射固化了的涂层中75μm厚的上层所吸收；d)测量荧光剂发射波长λ3的荧光的辐射能量强度(18)。上述方法可以用于测量辐射固化涂层中存在的可辐射固化的单体或低聚物的残存量。在荧光剂发射波长为λ3的荧光的辐射能量强度随辐射固化涂层中未反应的可辐射固化的单体或低聚物浓度而变化的场合，这种测量残存单体的方法是尤其有用的。

主权项

1.一种测量辐射固化的涂层中荧光剂发出荧光的辐射能量强度的方法，所述的方法包括下列步骤：a)提供一层涂层，所述的涂层包括：1)可辐射固化的单体或低聚物；和2)激励能量波长为λ2的荧光剂，所述的荧光剂的荧光辐射能量为λ3；b)通过暴露于辐射能量使所述的涂层固化，由此改变荧光剂暴露于波长λ2时理应发射的荧光的辐射能量强度；c)用波长为λ2的激励能量照射辐射固化了的涂层，其特征在于：激励能量有50％或以上被辐射固化的涂层中75μm厚的上层所吸收；d)测量荧光剂发射波长λ3荧光的辐射能量的强度。