[发明专利]一种用于测量在板的内表面上的金属膜厚度的装置无效
申请号: | 97103400.1 | 申请日: | 1997-03-27 |
公开(公告)号: | CN1182203A | 公开(公告)日: | 1998-05-20 |
发明(设计)人: | 李吉元 | 申请(专利权)人: | 三星电管株式会社 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹永来,林长安 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于测量在板的内表面上形成的金属膜厚度的装置,它包括一个位于被传送板之上的框架,在一端与框架可枢转地组合在一起的导轨从而其安装角可以调节,安装在导轨上用于沿着导轨往复运动的台车,与台车组合在一起的跟踪装置,用于通过有选择地接触运动板的所述侧表面来以板运动的速度传送台车,安装在台车上以便从台车上上升和下降的测量元件,用于通过接触被传送的板来测量金属膜厚度,和用于相对于板提升和降低测量元件的提升装置,它可降低工时。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 表面上 金属膜 厚度 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于测量在板的内表面上的金属膜厚度的装置,它包括:一个位于被传送的板之上的框架;一个在一端与所述框架可枢转地组合在一起的导轨,使得安装角可以调节;一个用于沿着所述导轨往复运动的安装在所述导轨上的台车;与所述台车组合的跟踪装置,用于通过有选择地与所述运动板的所述侧表面相接触来以所述板运动的速度传送所述台车;安装在所述台车上以便从所述台车上升和下降的测量元件,用于通过接触所传送的板来测量金属膜的厚度;和用于相对于所述板提升和降低测量元件的提升装置。
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