[发明专利]芳族聚酰胺和/或芳族聚酰亚胺薄膜和用其制作的磁记录介质无效

专利信息
申请号: 97110247.3 申请日: 1997-02-27
公开(公告)号: CN1066750C 公开(公告)日: 2001-06-06
发明(设计)人: 筑木稔博;末冈雅则;伊藤伸明 申请(专利权)人: 东丽株式会社
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08L77/00;C08L79/08;G11B5/62
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨丽琴
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供移行性和耐擦痕性优良的、作为磁记录介质时的S/N之比良好的薄膜。$一种以芳族聚酰胺和/或芳族聚酰亚胺为主成分、并在该成分中含有粒子的薄膜,在该膜的至少一面,粒子浓度最初显示极大值的深度作为dmax,比dmax深从表面到1μm的范围内的粒子浓度显示最小值或极小值的深度作为dmin,比dmax深粒子浓度分布曲线的1次微分值显示负的变曲点的深度作为d”,在各深度的粒子浓度作为ρ(d)时,要满足下式$10nm≤dmax≤300nm(1)$3≤ρ(dmax)/ρ(dmin)≤100(2)$或者$10nm≤dmax≤300nm(3)$3≤ρ(dmax)/ρ(d”)≤100(4)$ρ(dmax)/ρ(dmin)>100(5)$作为其特征的芳族聚酰胺和/或芳族聚酰亚胺薄膜。
搜索关键词: 聚酰胺 聚酰亚胺 薄膜 制作 记录 介质
【主权项】:
1、一种芳族聚酰胺和/或芳族聚酰亚胺薄膜,其特征在于,该薄膜是以芳族聚酰胺和/或芳族聚酰亚胺作为主要成分,并在该成分中含有粒子的薄膜,和该薄膜的至少一面上,粒子浓度最初显示极大值的深度作为dmax、在比dmax深从薄膜表面到1μm的范围内的粒子显示最小值或极小值的深度作为dmin,各深度的粒子浓度作为ρ(d)时要满足下式:10nm≤dmax≤300nm(1)3≤ρ(dmax)/ρ(dmin)≤100(2)
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