[发明专利]可预老化测试的动态存储器模块及其电路板无效
| 申请号： | 97114567.9 | 申请日： | 1997-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN1088899C | 公开（公告）日： | 2002-08-07 |
| 发明（设计）人： | 宣明智;韩宗立;赵君兴;刘东奇 | 申请（专利权）人： | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/34 | 分类号： | G11C11/34 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种可预老化测试的动态存储器模块及其电路板，其中，将老化测试电路与模块电路共同设计在每一个动态存储器模块的印刷电路板中，可同时对所有模块内的动态存储器进行老化测试，老化测试后又可以修复不良的集成电路，而切开后又变成可以独立使用的动态存储器模块，因此测试量增加，交货期缩短并节省成本。而老化测试电路与模块电路设计在同一印刷电路板上，省掉老化测试所需的板材，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 动态 存储器 模块 及其 电路板 | ||
【主权项】：
1.一种可预老化测试的动态存储器电路板模块，它至少包括：多个集成电路；以及一印刷电路板，包括一模块电路板层与一老化测试电路板层，并将该印刷电路板划分为一模块区与一辅助电路区，并且该模块电路板层与该老化测试电路板层被一接地面分开隔离；其中，这些集成电路位于该模块电路板层的该模块区上，该动态存储器模块的模块电路布线在该模块电路板层中，该动态存储器模块的老化测试电路布线在该老化测试电路板层中，而该老化测试电路板层的老化测试信号经由该辅助电路区进入该模块电路板层。
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