[发明专利]半导体器件、静电放电保护元件及防护绝缘击穿的方法无效

专利信息
申请号: 98124727.X 申请日: 1998-11-12
公开(公告)号: CN1217577A 公开(公告)日: 1999-05-26
发明(设计)人: 佐佐木诚 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/78;H01L23/60
代理公司: 中科专利代理有限责任公司 代理人: 刘晓峰
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 半导体器件包括MOS晶体管,其中源极、栅极及阱与地电势或源极线路的源极电势相连,而漏极与输入/输出线路相连,在此半导体器件的静电放电保护元件中,通过栅电极4限制阱接触孔与阱的接触面积,栅电极4是通过设置在阱接板8区域内的栅绝缘膜13而与阱12绝缘,其结果,很容易使MOS晶体管的寄生双极晶体管工作,并进行静电保护。相应地,可防止LSI中的MOS晶体管的静电击穿。
搜索关键词: 半导体器件 静电 放电 保护 元件 防护 绝缘 击穿 方法
【主权项】:
1、一种用于防止由于从外界到达包括MOS晶体管的集成电路的信号输入/输出部分的静电放电造成栅极绝缘击穿的半导体器件,其特征在于其通过一个设置在接触孔区域内的栅电极限制阱接孔与阱的接触面积,从而增大与阱的连接电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社,未经日本电气株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/98124727.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top