[发明专利]直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置无效
| 申请号： | 99109739.4 | 申请日： | 1999-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN1280301A | 公开（公告）日： | 2001-01-17 |
| 发明（设计）人： | 陈品毅 | 申请（专利权）人： | 华仪电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京三友专利代理有限责任公司 | 代理人： | 刘世长 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种直流耐压测试/绝缘阻抗测试之输出开路检测方法及其装置。在检测一负载待测物前,先在一测试装置中设定检测时间区间及一待测物的充电电参数极限值,检测该待测物两测试端的充电电参数值,将所检测的充电电参数值与预设的该充电电参数极限值相比较,以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接,若两者相导接,则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测,否则,该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测,并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。以此防止待测物未与测试装置正常导接时,却误判为合格的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 直流 耐压 测试 绝缘 阻抗 输出 开路 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种直流耐压测试／绝缘阻抗测试之输出开路检测方法，其特征在于该方法的步骤是：(一)在一测试装置中设定检测时间区间(ΔT)及一待测物的充电电参数极限值，其中该检测时间区间(ΔT)是指在该测试装置提供电压后，检测充电电参数的时间区间，该充电电参数极限值系该待测物对应于所提供的电压，应产生的充电参数的极限值；(二)测试装置在该检测时间区间(ΔT)内，检测该待测物两测试端的充电电参数值；(三)测试装置将步骤二所检测的充电电参数值与步骤一预设的该充电电参数极限值相比较，以判断该待测物与该测试装置两测试端是否相导接，若两者相导接，则该测试装置即可继续该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，否则，该测试装置即停止该待测物漏电流或绝缘阻抗的检测，并显示出该待测物并未与该测试装置两测试端相导接的信息。
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